TESTSYSTEME FÜR DAS TESTEN VON

BESTÜCKTEN LEITERPLATTEN (PCBA)

TRIO TESTSYSTEM

ICT FKT LED
Die perfekte technische Lösungfür die Hersteller von elektronischen Bauteilen

Aufbau:
• 19“ Rack mit Aufnahmerahmen für Pylonblöcke
• 12 x Pylonblock
• TRI 5001T SII ICT Mainset
• ESD Safe

TR5001 SII Testsystem – Serie

Funktionstest mit LED Prüfung
Multi-Core Parallel Test
In-System LED Analysator

Eigenschaften:
• 1080 LED Kanäle maximal
• Non-multiplexing 1:1 Pin-Architektur
• MDA + ICT + FKT
• Hohe Präzision
• Alto rendimiento
• Hoher Durchsatz
• Schnelle Schnittstellentrennung
• Automatische Bandbreiteneinstellung

TR5001 SII TESTSYSTEM IN-LINE SERIE

Hochmodernes Testsystem
In-Line Multi-Core In-Circuit Test + Funktionstest
Paralleltest in Ultra-Hochgeschwindigkeit

Eigenschaften:
• Multi-Core Paralleltester
• Serielle Testkontrolle mit bis zu 8 Ports an jedem Pin
• PXI-Anbindung
• Selbstdiagnosesystem
• Autokalibrierungsfunktion
• Hochpräzises Messen
• SMEMA kompatibel
• Einfache Programmentwicklung

TR5001 SII TESTSYSTEM QDI SERIE - ICT

Hohe Leistungsfähigkeit
Multi-Core Testen
Merged Core Testen
4x Independent Cores

Eigenschaften:
• Flexibler Multi-Core – Merged-Core Paralleltester
• Serielle Testkontrolle mit bis zu 8 Ports an jedem Pin
• Press Down Adapter geschützt durch Lichtvorhang
• PXI-Anbindung
• Selbstdiagnosesystem und Autokalibrierungsfunktion
• Hochpräzises Messen
• Wizard zur Programmentwicklung

TR5001 SII TESTSYSTEM SERIE - ICT

Hohe Präzision
Press-Down
Zweistufig

Eigenschaften:
• Multi-Core Paralleltest
• Serielle Testkontrolle mit bis zu 8 Ports an jedem Pin
• Funktionstest-Erweiterung über PXI-Module
• Selbstdiagnosesystem
• Autokalibrierungsfunktion
• Hochpräzises Messen
• Wizard zur Programmentwicklung

TR5001QV / DV SII TESTSYSTEM

High-End Lösung für den Vakuum-ICT- und Vakuum-FKT-Test,
Multi-Core Paralleltest

Eigenschaften:
• Vakuumbetrieb
• Vakuum-Prüfadapter
• Non-multiplexing 1:1 Pin-Architektur
• Skalierbarer MDA zu In-Circuit- und Funktionstest
• Hohe Präzision
• Hoher Durchsatz
• Schnelle Schnittstellentrennung

TINY SII IN-LINE TESTSYSTEM

SMEMA Schnittstelle für
ICT + LED + FKT

Eigenschaften:
• In-Line-Betrieb
• Speziell für das TRI TR5001T SII TINY ICT Testsystem
• Geringer Platzbedarf
• Automatische Ablaufsteuerung
• Ohne Druckluft
• Bis zu 640 analoge Testpunkte

TR5001T TINY SII – ICT + LED TESTSYSTEM

Geringer Platzbedarf
Tisch-Testsystem
Bis zu 640 Testpunkte

Eigenschaften:
• Komplett ausgestattete ICT-Lösung
• USB-Schnittstellen
• Boundary Scan mit 2 unabhängigen TAP‘s
• Digitaler 16-Kanal Input - Output
• Hochmodernes analoges und digitales Testen
• Programmierbare Stromversorgung für das Testen von bis zu 196 LEDs

TR5001 IN-LINE – ICT + FKT + MDA

Ideal für die In-Line-Integration, dieses mit SMEMA-kompatible Testsystem ist eine modulare Plattform zum Test von Leiterplatten und Baugruppen

Eigenschaften:
• SMEMA-kompatibel
• Testsystem für MDA + ICT + FKT
• Modulares System
• PXI-Anbindung
• Schnell und einfach zu Programmieren


TR5001E – ICT TESTSYSTEM

Geringere Prüfadapter Kosten da Zweistufig

Eigenschaften:
• Modular aufzurüsten für MDA + ICT + FCT
• Hohe Fehlerabdeckung
• PXI-integriert / Anbindung
• Schnell und einfach zu Programmieren

TR5001 – ICT + FKT + MDA TESTSYSTEM

Erweiterbares Testsystem für das Testen von PCBA

Eigenschaften:
• Ergonomische Ausführung
• Modular
• MDA + ICT + Funktionstest
• Hohe Fehlerabdeckung
• PXI-integriert / Anbindung
• Schnell und einfach zu Programmieren

TR8100LV – Low Voltage ICT- TESTSYSTEM

Konzipiert für große und komplexe PCBA‘s

Eigenschaften:
• Hohe Präzision
• Digitale 1:1 Driver / Receiver Pin Architektur
• Hohe Fehlerabdeckung im Vakuum-Prüfadapter
• Vakuum-Prüfadapter
• Testen von Niederspannungs-Prüflingen
• Schnelldurchlauf-Test
• Schnelle und einfache Programmentwicklung

FABRIKATIONSFEHLER ANALYSE (MDA)-TESTSYSTEM

TR518 SII SCHUBLADEN-TESTSYSTEM

Der neue MDA als Schubladen-Ausführung

Eigenschaften:
• MDA – Analoges Testen
• Hohe Präzision, zuverlässig, hohe Testgeschwindigkeit
• Bedienerfreundliche Benutzeroberfläche
• Kompletter MDA-Test
• QDI Prüfadapter Schnittstelle

TR518 SII IN-LINE – MDA – TESTSYSTEM

Automatische In-Line Ausführung Flexibles automatisches Testsystem für den MDA-Test von mittelgroßen Leiterplatten

Eigenschaften:
• Einfaches Programmieren von 1 – 24 analogen Testpunkten
• Konzipiert für TRI MDA-Testsysteme
• Minimaler Platzbedarf
• SMEMA fähig
• Automatische Ablaufsteuerung
• Keine Druckluft notwendig

TR518 SII – MDA TESTSYSTEM

Einfache Programmierung, 2560 Analoge Testpunkte

Eigenschaften:
• Press-Down Lösung in zuverlässiger TR518
• Testsystem-Ausführung
• TestJet Technologie
• Bedienerfreundliche Schnittstellen-Software
• Einfache Programmierung